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2015年10月10日 震災から復旧 米沢高等工業学校本館

特許出願2007-239251:液晶物性評価装置



特許出願2007239251液晶物性評価装置

課題本発明は印加電圧による分子の並びの変化簡便に測定する装置提供すること目的する解決手段枚の対向する電極有しその間に液晶挟持可能な液晶セル制御可能な掃引速度Rs線形電圧変化する掃引電圧成分Vsと前記掃引電圧成分に重畳され周波数fおよびピーク?ピーク振幅Vpp有する高周波交流成分とが合成された信号電圧前記液晶セル印加可能な信号発生手段と前記信号電圧の掃引電圧成分に対応するアドミタンス測定可能なアドミタンス測定手段と有する液晶物性評価装置により液晶材料評価行う選択図

関連講義
卒業研究-電気化学2004,液晶物質1)
卒業研究-電気化学2004,液晶セル2)
液晶材料に関する研究3)



実験方法 > 材料&試 > 液晶物質,材料&試料
仁科 辰夫,卒業研究(C1-電気化学, 講義ノート, (2007).

実験方法 > 電気化学 > 液晶セル,電気化学セル・電解セル
仁科 辰夫,卒業研究(C1-電気化学, 講義ノート, (2009).

(1実験方法 > 材料&試 > 液晶物質,材料&試料
仁科 辰夫,卒業研究(C1-電気化学, 講義ノート, (2007).
(2実験方法 > 電気化学 > 液晶セル,電気化学セル・電解セル
仁科 辰夫,卒業研究(C1-電気化学, 講義ノート, (2009).
(3液晶材料に関する研究プロジェクト.