⇒#56@装置;

オージェ電子分光

取扱	正	管理者
責任者	副

平成５年
・表面分析，元素分析装置。
・超高真空。
・ロードロック試料室。
・Ａｒラスター機能。
・深さ分析装置。
部　局　名工学部
電気電子工学科
大嶋　重利
内　　　線３２８６
ohshima@yz.yam
・講習の予定無し。使用
・トラブルの場合使用者およびその所属グループの責任において迅速

表面状態測定法：電極表面をプローブする¹⁾

(1) 表面状態測定法：電極表面をプローブする
藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著, 電気化学測定法, 技報堂出版, (1984).