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【学会】 接触角測定法によるフッ酸処理GaAs基板表面の評価
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ID⇒#153@学会;
要約【学会】清野誠人,長…らは、2003年に米沢で開催された日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-12において接触角測定法によるフッ酸処理GaAs基板表面の評価について報告している⇒#153@学会;。
タイトル接触角測定法によるフッ酸処理GaAs基板表面の評価
講演番号
発表者清野誠人,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎,松下浩一
会議名日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-12
場所米沢
会期2003/03/07
イベント(会議名&イベント名)
URL
外部J-GLOBAL
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管理者立花 和宏
研究グループ尾形・仁科研究室(旧応用化学C1講座)
PME形式清野誠人,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎,松下浩一,接触角測定法によるフッ酸処理GaAs基板表面の評価,日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-12,米沢, ,2003/03/07
書誌情報接触角測定法によるフッ酸処理GaAs基板表面の評価
清野誠人,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎,松下浩一,日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-12講演要旨集 (2003).

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