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仁科辰夫教授 最終講義 2023.3.17 米沢キャンパス中示A

【講演】 タンタルコンデンサにおける低ESR化(仮)

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ID37
要約タンタルコンデンサにおける低ESR化(仮)⇒#37@講演;
題目タンタルコンデンサにおける低ESR化(仮)
会議名㈱技術情報協会 セミナー
開催場所東京
開催日時2005/01/19~2005/01/19
管理者立花 和宏
シラバス固体電解コンデンサの耐電圧と漏れ電流
PME形式立花 和宏,タンタルコンデンサにおける低ESR化(仮),㈱技術情報協会 セミナー,東京, ,2005/01/19
講義ノート
高分子固体電解コンデンサの皮膜修復
固体電解コンデンサ
表面欠陥について
水分濃度とニオブアノード酸化皮膜の耐電圧
はじめに
1. バルブメタルのアノード酸化
 -1.1. バルブメタルの高電場機構による皮膜生成機構
 -1.2. アノダイジングレシオ、絶縁性、耐電圧、漏れ電流
 -1.3. アノード酸化皮膜の表面欠陥と電流集中
1.1. バルブメタルの高電場機構による皮膜生成機構
1.2. アノダイジングレシオ、絶縁性、耐電圧、漏れ電流
1.3. アノード酸化皮膜の表面欠陥と電流集中
2. カソード材料によるアノード酸化皮膜の表面欠陥の顕在化
 -2.2. 炭素材料接触による漏れ電流
2.2. 炭素材料接触による漏れ電流
 -. 表面欠陥について
その他の講義ノート
説明引用