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仁科辰夫教授 最終講義 2023.3.17 米沢キャンパス中示A
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説明
探針。測定のさきっぽ。オシロスコープの接続端子。形状センサーのしこまれているさきっぽ。固体表面の機器分析に使われる入射粒子や入射光。電子ビーム、X線、紫外線などがよく使われます。表面から反射してくる二次粒子(電子、イオン、X線、光線)を分析します。

電気化学測定法(目次)1)
(1) 電気化学測定法(目次)
藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著, 電気化学測定法, 技報堂出版, (1984).