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横軸:s 縦軸:mA/cm2 電流の小さい順にCu,Ag,99.999+,Mo,Co そこで、Table 2に示したようなアルミニウム試料を用いて、漏れ電流特性の評価を行った。Fig. 10 にそれぞれの異種金属元素を含有するアルミニウムをLiBF4中で1V/sで電位掃引した後、40V vs. Ag で定電位に保持したときの時間電流曲線を示す。1V/sで電位掃引するとほぼ一定の電流が観察されるが、定電位に保持すると、電流は徐々に減少する。このような過程は電解コンデンサ用箔の製造工程において電流絞り込み(soaking)と呼ばれ、皮膜欠陥の修復が起こると言われている。HFM理論によれば不働態皮膜膜厚が増加に伴い皮膜内部の電場強度が減少していることを意味している。絞り込みによってもっとも漏れ電流を小さくできたのは、Cuを含むアルミニウムであり、次いでAg を含むアルミニウムであった。高純度のアルミニウムはやや漏れ電流が大きかった。MoやCoを含むアルミニウムでは漏れ電流が大きかったばかりでなく、途中漏れ電流の増加が見られた。このように絞り込みによって一旦小さくなった漏れ電流が再び増大する現象をアルミ電解コンデンサの寿命性能評価の分野でLC(Leak current)バック現象などと呼び、不働態皮膜の欠陥部の存在に起因していると言われている。これらの結果より、アルミニウムに含まれる微量異種金属元素がLiBF4中で生成する不働態皮膜の特性に影響を与えることがわかった。 keyword ⇒ではじまり;で終わるまでの句を直接引用します。⇒#156@化学種;などのように指定します。