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2015年10月10日 震災から復旧 米沢高等工業学校本館

【キーワード】 プローブ


項目
ID⇒#4562
キーワードプローブ
ソース情報
品詞
内容
探針測定さきっぽオシロスコープ接続端子形状センサーしこまれているさきっぽ固体表面機器分析使われる入射粒子や入射電子ビームX線紫外線などがよく使われます表面から反射してくる粒子電子イオンX線光線分析します

電気化学測定目次1)
(1電気化学測定法(目次)
藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著, 電気化学測定法, 技報堂出版, (1984).


参考書籍…山形大学附属図書館
(4) 日本表面科学会編, ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡, 丸善, (2002.8).
(7) 西川治編著, 走査型プローブ顕微鏡 : STMからSPMへ, 丸善, (1998.3).
(8) 西川治編著, 走査型プローブ顕微鏡 : STMからSPMへ, 丸善, (1998.3).
(9) 西川治編著, 走査型プローブ顕微鏡 : STMからSPMへ, 丸善, (1998.3).
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