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HS-100のESRスペクトル



○○ 測定条件 ○○

実験装置: XバンドESR装置1)
測定試料 HS-1002)
測定日時: 2005/12/14
共鳴周波数3); 9.2GHz4)
温度5): 25 6)
照射電力7): 4 mW8)
中心磁場9): 336.8 mT10)
磁場掃引幅11): 10 mT12)
磁場掃引時間13): 60s14)
磁場変調強度15): 0.016 mT16)
時定数17): 0.01s18)
増幅ゲイン19): 1 -
Mnマーカーダイヤル値: 720 -



XバンドESR装置測定装置.

(1XバンドESR装置測定装置.
(2HS-100試料.
(3ν共鳴周波数Resonant Frequencyヘルツ, (物理量).
(4ギガヘルツGHz周波数, (単位).
(5T温度tempretureケルビン, (物理量).
(6セルシウス度温度, (単位).
(7P照射電力Powerワット, (物理量).
(8ミリワットmW電力, (単位).
(9Ce中心磁場Center Fieldテスラ, (物理量).
(10ミリテスラmT磁束密度, (単位).
(11磁場掃引幅ミリテスラ, (物理量).
(12ミリテスラmT磁束密度, (単位).
(13Fi磁場掃引時間Field Sweep time, (物理量).
(14s時間, (単位).
(15磁場変調強度ミリテスラ, (物理量).
(16ミリテスラmT磁束密度, (単位).
(17tc時定数Time Constant, (物理量).
(18s時間, (単位).
(19増幅率分率, (物理量).