表面状態測定法：電極表面をプローブする いろいろなプローブ 顕微鏡 Ｘ線表面分析法 ＥＳＣＡ オージェ電子分光法（ＡＥＳ） ラマン分光分析法 二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ） 電気化学測定法（目次）1)(1) 電気化学測定法（目次）藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著, 電気化学測定法, 技報堂出版, (1984).15.2. 顕微鏡, 15.3. Ｘ線表面分析法, 15.4. ＥＳＣＡ（ＸＰＳ）【関連書籍】現代の電気化学1)(1) 現代の電気化学山下正通、小沢昭弥, 丸善, (2012).