Ｘ線表面分析法 はじめに Ｘ線回折で得られる情報 Ｘ線回折の原理と装置 試料の調整 測定の依頼 回折データの解析 Ｘ線マイクロアナライザー（ＸＭＡ） 表面状態測定法：電極表面をプローブする1)(1) 表面状態測定法：電極表面をプローブする藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著, 電気化学測定法, 技報堂出版, (1984).【関連書籍】現代の電気化学1)(1) 現代の電気化学山下正通、小沢昭弥, 丸善, (2012).