表面状態測定法：電極表面をプローブする
いろいろなプローブ
顕微鏡1)
Ｘ線表面分析法2)
ＥＳＣＡ3)
オージェ電子分光法（ＡＥＳ）
ラマン分光分析法
二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）
電気化学測定法（目次）4)
(
1)
表面状態 >
顕微鏡藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著,
電気化学測定法, 技報堂出版, (
1984).
(
2)
表面状態 >
Ｘ線表面分析法藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著,
電気化学測定法, 技報堂出版, (
1984).
(
3)
表面状態 >
ＥＳＣＡ（ＸＰＳ）藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著,
電気化学測定法, 技報堂出版, (
1984).
(
4)
>
電気化学測定法（目次）藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著,
電気化学測定法, 技報堂出版, (
1984).
【関連講義】卒業研究（Ｃ１-電気化学２００４～）,機器分析1)
要約 基礎機器分析2)
(
1)
実験方法 >
装置と器 >
装置、器 >
機器分析,
装置、器具、ツール、電子部品仁科 辰夫,
卒業研究（Ｃ１-電気化学,
講義ノート, (
2006).
(
2)
基礎機器分析,
,etc,
,
加藤 良清,
シラバス-山形大学, (
2009).
【関連講義】卒業研究（Ｃ１-電気化学２００４～）,機器分析1)
要約 基礎機器分析2)
(
1)
実験方法 >
装置と器 >
装置、器 >
機器分析,
装置、器具、ツール、電子部品仁科 辰夫,
卒業研究（Ｃ１-電気化学,
講義ノート, (
2006).
(
2)
基礎機器分析,
,etc,
,
加藤 良清,
シラバス-山形大学, (
2009).
【関連書籍】現代の電気化学1)