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AIBN+DM-β-CD+DMPO+H2O+O2+熱(80℃)



マイクロテストチューブに 0.018M Heptakis-β-シクロデキストリン/PBS/AIBN溶液75μLと0.6M DMPO/PBS溶液75μLとPBS溶液75μL加え、流量40mL/minで酸素を2分間通気し、毛細管にとった後,毛細管を直接恒温槽(温度80℃)に入れて2分間加熱した後、氷水に入れ30秒後にESR測定した。

さいなは、2011年に、それまでの研究をアゾ化合物を用いる過酸化ラジカル消去能評価法の研究というテーマで修士論文としてまとめ、山形大学を卒業した1)。

2-シアノ-2-プロピル-パーオキシル ラジカル2)とDMPOが反応して,スピンアダクトが生成した確率が高い.

DM-B-CDとAIBN分子距離dと生成熱の関係3)


○○ 測定条件 ○○

試料名: AIBN+DM-β-CD+DMPO+O2+熱(80℃)
実験装置: XバンドESR装置(JEOL FR-30,日本電子株式会社)4)
測定日時: 2011/06/30
共鳴周波数5); 約9.2GHz6)
温度7): 25 ℃8)
照射電力9): 4 mW10)
中心磁場11): 336.8 mT12)
磁場掃引幅13): 5 mT14)
磁場掃引時間15): 60 s16)
磁場変調強度17): 0.1 mT18)
時定数19): 0.01 s20)
増幅率(ゲイン)21): 100 -
Mnマーカーダイヤル値22)23): 720 -
g値24): -
g値25): 2.0059 -
超微細結合定数26): aN:1.3126mT、aH:0.967 mT27)
測定者: さいな

【関連論文】
AIBN由来DMPO-ORのhfccとmassの結果:Edward G. Janzen , Peter H. Krygsman , David A. Lindsay , D. Larry Haire , j. am. chem. soc.,112,8279(1990)28)



DM-B-CDとAIBN分子間距離dと生成熱の関係, グラフ.

XバンドESR装置
,JEOL FR-30,,(日本電子株式会社,).

Mn マーカー バックグラウンド 2007/05/31調整 ESRスペクトル (2回目), グラフ.

(1) アゾ化合物を用いる過酸化ラジカル消去能評価法の研究
賽那, 山形大学  物質化学工学科, 修士論文 (2011).
(2) 2-シアノ-2-プロピル-パーオキシル ラジカル, 2-cyano-2-propyl-peroxyl radical, CN(CH3)2COO・, = 100.09714 g/mol, (化学種).
(3) DM-B-CDとAIBN分子間距離dと生成熱の関係, グラフ.
(4) XバンドESR装置
,JEOL FR-30,,(日本電子株式会社,).
(5) 共鳴周波数 ν / Hz.
(6) ギガヘルツ, GHz, 周波数, (単位).
(7) 温度 T / K.
(8) セルシウス度, °C, 温度, (単位).
(9) 照射電力 P / W.
(10) ミリワット, mW, 電力, (単位).
(11) 中心磁場 Ce / T.
(12) ミリテスラ, mT, 磁束密度, (単位).
(13) 磁場掃引幅 x / mT.
(14) ミリテスラ, mT, 磁束密度, (単位).
(15) 磁場掃引時間 Fi / s.
(16) 秒, s, 時間, (単位).
(17) 磁場変調強度 x / mT.
(18) ミリテスラ, mT, 磁束密度, (単位).
(19) 時定数 tc / s.
(20) 秒, s, 時間, (単位).
(21) 増幅率 x / ・.
(22) @ > マンガンマーカー (Mn2+/MgO)
マンガンマーカー (Mn2+/MgO), Mn2+ Marker, (材料).
(23) Mn マーカー バックグラウンド 2007/05/31調整 ESRスペクトル (2回目), グラフ.
(24) g値, (計算).
(25) マンガンマーカーからg値を求める計算式, (計算).
(26) 超微細結合定数 A / T.
(27) ミリテスラ, mT, 磁束密度, (単位).
(28) Detection of alkyl, alkoxyl, and alkyperoxyl radicals from the thermolysis of azobis(isobutyronitrile) by ESR/spin trapping. Evidence for double spin adducts from liquid-phase chromatography and mass spectroscopy
Edward G. Janzen , Peter H. Krygsman , David A. Lindsay , D. Larry Haire , j. am. chem. soc.,112,8279(1990).