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仁科辰夫教授 最終講義 2023.3.17 米沢キャンパス中示A
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12752(XRD) 一覧戻る進む
図. 12752(XRD)

項目値
ID⇒#1131@グラフ;
要約【グラフ】図に12752(XRD)のXRDチャート⇒#17@プロット;を示す。ここで、横軸は角度⇒#8@物理量;であり、縦軸はX線強度⇒#126@物理量;である。この図より【卒論】ともゆきは、2015年に、それまでの研究をエネルギーデバイス材料の使われる誘電体の構造が電気的物性に与える影響(仮)というテーマで修士論文としてまとめ、山形大学を卒業した⇒#562@卒…であることがわかる⇒#1131@グラフ;。
名前12752(XRD)
プロットタイプXRDチャート
X軸長さ/(無次元)(0 ~ 80)80
Y軸質量/(無次元)(0 ~ 200000)200000
 
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説明
【卒論】ともゆきは、2015年に、それまでの研究をエネルギーデバイス材料の使われる誘電体の構造が電気的物性に与える影響(仮)というテーマで修士論文としてまとめ、山形大学を卒業した1)。

【試料】マンガン酸リチウム2)

Sample,
Comments,仁科研3~70°
Filename,C:\XRD測定データ110624\立花研\LMO\12752.raw
Goniometer,Ultima IV インプレーン
Attachment,標準試料台
ScanningMode,2Theta/Theta
ScanningType,Continuos Scanning
X-Ray,40kV/40mA
発散スリット,1/2°
発散縦制限スリット,10mm
散乱スリット,8.0mm
受光スリット,開放
Start,10
Stop,70
Step,0.02
Speed,8
Offset,0
2θ/°,強度/cps
数値
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