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| プロット | ＸＲＤチャート |
| 要約 | 【プロット】ＸＲＤチャート⇒#17@プロット; |
| Ｘ軸 | 角度 |
| X | 角度 θ / rad. |
| Ｙ軸 | Ｘ線強度 |
| Y | Ｘ線強度 x / Bq. |
| プロット群 | （未定義 > ＸＲＤチャート |
| 内容 | 結晶構造を調べるときに使います。ピークは確率曲線1)のようになります。格子定数は回折角度2)から計算します3)。
Ｘ線管球：加速電圧、電流
角度スキャンレート
角度スキャンレンジ
【物理量】
秩序パラメータ4)角度5)回折角度6)面間隔7)格子定数8)半値幅9)モル体積10)
物質名
調整日時
保存方法（デシケータ・シリカゲル・グローブボックス）
合成法
合成状態（プリカーサー、仮焼（温度、時間、雰囲気）、本焼（温度、時間、雰囲気））
電気化学測定後（粉末・シート・ペースト）
洗浄（水、アルコール・その他）
粉砕：メノウ乳鉢（粉砕時間）
試料の状態：さらさら・ざらざら・なめらか・他
マンガン酸リチウムのX線回折11)
【関連講義】卒業研究（Ｃ１-電気化学２００４～）,ＸＲＤ（Ｘ線回折）12)
ブラッグの反射条件13)
( 1) 確率曲線, 図形. ( 2) 回折角度（２θ）, ( 計算). ( 3) > 固体状態井上 勝也 著, 現代物理化学序説 改訂版, 培風館, ( 198). ( 4) 秩序パラメータ( ) [ ]. ( 5) 角度( angle) [ ラジアン]. ( 6) 回折角度( ) θ [ ]. ( 7) 面間隔( ) d [ ]. ( 8) 格子定数( lattice constant) [ メートル]. ( 9) 半値幅( ) [ ]. ( 10) モル体積( ) [ 立方メートル毎モル]. ( 11) マンガン酸リチウムのX線回折, グラフ. ( 12) 実験方法 > 測定と評 > ＸＲＤ（Ｘ線回折）, 測定と評価仁科 辰夫, 卒業研究（Ｃ１-電気化学, 講義ノート, ( 2006). ( 13) ブラッグの反射条件, ( 計算). |
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